159-0186-4404
Unique Microelectronics (Hongkong)Limited
资质荣誉
人才招聘
应用:适用于薄膜、器件层和覆盖层沉积的CMP(典型SiO2)主要特点:
适用于4寸及以下样品尺寸,纳米级化学机械抛光
可同时处理2片4英寸样品
桌面式设计,减少占地面积,防腐蚀设计
工艺参数监控,对负载、摩擦系数和抛光垫磨损进行分析
多路供液
PLC控制,可通过主盘得电流图来凸显小范围得工艺变化,识别任何EPD发生